장경수 씨는 ‘분류규칙 기반의 반도체 Wafer Map 결함패턴 탐지’란 논문에서 반도체 Wafer Map의 결함패턴을 효율적으로 탐지하는 새로운 방법을 제시했다. 또 장준호 씨는 ‘동작 분석을 통한 인간공학적 제품 설계 평가 방법 개발’이란 논문에서 제품에 대한 사용자 자세와 동작을 정량적으로 파악하고, 실제 사용할 때와 비교 분석해 제품을 평가하는 방법을 개발했다.
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지난 4일 고려대에서 열린 2006년 대한산업공학회 추계 학술대회에서 산업경영공학과 동문인 장경수(06년 8월 석사졸업, 지도교수 전치혁) 씨가 정헌학생논문상을, 석사과정 장준호(지도교수 유희천) 씨가 제2회 석사논문경진대회 인간공학분야 우수논문상을 수상했다.
장경수 씨는 ‘분류규칙 기반의 반도체 Wafer Map 결함패턴 탐지’란 논문에서 반도체 Wafer Map의 결함패턴을 효율적으로 탐지하는 새로운 방법을 제시했다. 또 장준호 씨는 ‘동작 분석을 통한 인간공학적 제품 설계 평가 방법 개발’이란 논문에서 제품에 대한 사용자 자세와 동작을 정량적으로 파악하고, 실제 사용할 때와 비교 분석해 제품을 평가하는 방법을 개발했다.
장경수 씨는 ‘분류규칙 기반의 반도체 Wafer Map 결함패턴 탐지’란 논문에서 반도체 Wafer Map의 결함패턴을 효율적으로 탐지하는 새로운 방법을 제시했다. 또 장준호 씨는 ‘동작 분석을 통한 인간공학적 제품 설계 평가 방법 개발’이란 논문에서 제품에 대한 사용자 자세와 동작을 정량적으로 파악하고, 실제 사용할 때와 비교 분석해 제품을 평가하는 방법을 개발했다.
