화학 이문호-장태현 교수팀

화학과 이문호-장태현 교수 공동연구팀의 나노분석기술 연구가 세계적인 과학전문지 ‘저널 오브 어플라이드 크리스탈로그래피(Journal of Applied Crystall ography)’의 2008년 표지 논문으로 선정되었다.

연구팀은 포항방사광가속기의 X-선 스침각 산란을 이용하여 고분자 나노구조 및 특성을 정량적으로 분석하는 새로운 나노분석기술을 세계 최초로 개발했다.
이 기술은 방사광 X-선을 나노 시료 표면에 가까운 각도로 입사해 시료를 통과하는 X-선의 양을 획기적으로 증가시켜 양질의 X-선 산란 데이터를 얻는 기술로, 0.1 나노미터의 고분해능으로 고분자 나노구조 및 특성을 비파괴적으로 분석하는 획기적인 나노분석을 할 수 있다는 장점을 띠고 있다.

또한 일반적 방법으로는 분석이 불가능했던 ‘자이로이드(Gyroid)’ 같은 고분자 나노구조의 정확한 크기·형태·분포·배열 등에 대한 데이터를 얻을 수 있고 측정 시간이 매우 짧아 실시간으로 평가와 분석이 가능한 장점이 있어, 앞으로 반도체·디스플레이 같은 IT 산업에 요구되는 핵심기술이 될 것으로 기대된다.
포항방사광가속기의 X-선으로 얻어진 고분자 나노구조체의 산란패턴 사진은 올해 1월부터 12월까지 1년 동안 이 저널 표지에 게재된다. 이 연구는 과학기술부 및 한국과학재단의 연구비 지원으로 이루어졌다.